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主板诊断卡代码是什么意思

12-14 18:36:14   分类:主板维修   浏览次数: 860
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  主板诊断卡对于专业维修电脑的人来说是经常要用到的工具,普通的诊断卡代码所代表的故障我想大家都烂熟于胸了。但是仍然有一些诊断卡会跳出一些非常怪异的代码,让人匪夷所思,小编搜集了一些代码资料,希望能给大家带来帮助。
  
  00.已显示系统的配置;即将控制INI19引导装入。
  
  01处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。CPU寄存器测试正在进行或者失败。
  
  02确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。CMOS写入/读出正在进行或者失灵。
  
  03清除8042键盘控制器,发出TESTKBRD命令(AAH)通电延迟已完成。ROMBIOS检查部件正在进行或失灵。
  
  04使8042键盘控制器复位,核实TESTKBRD。键盘控制器软复位/通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。
  
  05如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。已确定软复位/通电;即将启动ROM。DMA初如准备正在进行或者失灵。
  
  06使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROMBIOS检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。
  
  07处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。ROMBIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。.
  
  08使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令,即将写入BAT命令。RAM更新检验正在进行或失灵。
  
  09EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。第一个64KRAM测试正在进行。
  
  0A使视频接口作初始准备。发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。第一个64KRAM芯片或数据线失灵,移位。
  
  0B测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。第一个64KRAM奇/偶逻辑失灵。
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  0C测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP命令。第一个64KRAN的地址线故障。
  
  0D1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、视频通道测试,如果失败,则鸣喇叭。已处理NOP命令;接着测试CMOS停开寄存器。第一个64KRAM的奇偶性失灵
  
  0E测试CMOS停机字节。CMOS停开寄存器读/写测试;将计算CMOS检查总和。初始化输入/输出端口地址。
  
  0F测试扩展的CMOS。已计算CMOS检查总和写入诊断字节;CMOS开始初始准备。.
  
  10测试DMA通道0。CMOS已作初始准备,CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。第一个64KRAM第0位故障。
  
  11测试DMA通道1。CMOS状态寄存器已作初始准备,即将停用DMA和中断控制器。第一个64DKRAM第1位故障。
  
  12测试DMA页面寄存器。停用DMA控制器1以及中断控制器1和2;即将视频显示器并使端口B作初始准备。第一个64DKRAM第2位故障。
  
  13测试8741键盘控制器接口。视频显示器已停用,端口B已作初始准备;即将开始电路片初始化/存储器自动检测。第一个64DKRAM第3位故障。
  
  14测试存储器更新触发电路。电路片初始化/存储器处自动检测结束;8254计时器测试即将开始。第一个64DKRAM第4位故障。
  
  15测试开头64K的系统存储器。第2通道计时器测试了一半;8254第2通道计时器即将完成测试。第一个64DKRAM第5位故障。
  
  16建立8259所用的中断矢量表。第2通道计时器测试结束;8254第1通道计时器即将完成测试。第一个64DKRAM第6位故障。
  
  17调准视频输入/输出工作,若装有视频BIOS则启用。第1通道计时器测试结束;8254第0通道计时器即将完成测试。第一个64DKRAM第7位故障。
  
  18测试视频存储器,如果安装选用的视频BIOS通过,由可绕过。第0通道计时器测试结束;即将开始更新存储器。第一个64DKRAM第8位故障。
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  19测试第1通道的中断控制器(8259)屏蔽位。已开始更新存储器,接着将完成存储器的更新。第一个64DKRAM第9位故障。
  
  1A测试第2通道的中断控制器(8259)屏蔽位。正在触发存储器更新线路,即将检查15微秒通/断时间。第一个64DKRAM第10位故障。
  
  1B测试CMOS电池电平。完成存储器更新时间30微秒测试;即将开始基本的64K存储器测试。第一个64DKRAM第11位故障。
  
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